详细介绍
硅窗口片
由于成本和密度较低，因此采用光学等级硅制作而成的硅(Si)窗口片成了应用于1.2 - 7μm光谱范围的热门产品。硅的密度很低（锗或硒化锌的一半），所以非常适合用于重量敏感的应用，特别是那些介于3-5μm范围之间的应用。其密度为2.329 g/cm3，努氏硬度则为1150。因此，它比锗更坚硬并且更加不易碎裂。
相关参数：
| 尺寸（直径） | 0.2-300mm |
| 厚度 | 0.1-30mm |
| 尺寸公差 | +/-0.02mm |
| 光洁度 | 20/10 or better |
| 通光孔径 | >90% |
| 面型 | λ/10 |
| 平行度 | +/-30"" |
| 倒角 | 0.1-0.3mm×45° |
| 镀膜 | AR/AR@3-5μm DLC/AR@8-14μm BBAR/BBAR@3-12μm |
联系方式
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