东莞 回收 Fluke/福禄克 Ti32热像仪 Ti400高精度热像仪

福禄克Ti32 详细技术指标
温度 温度测量范围（-10 °C 以下未经校准） -20 ℃ ～ +600 ℃
准确度 ± 2 ℃ 或者 2 %，取大值
发射率修正 是
背景温度补偿 是
传输校正 是
成像性能 图像捕捉频率 9 Hz 刷新率或 60 Hz 刷新率，取决于型号
探测器类型 320 x 240 焦平面阵列，非制冷微测辐射热计
热灵敏度（NETD） ≤ 0.045 ℃，（30 ℃ 目标温度时）（45 mK）
光谱带 7.5 μm ～ 14 μm（长波）
可见光照相机 200万像素
**小焦距 46 cm（约 18 in）

Fluke/福禄克Ti400 详细技术指标
温度
温度测量范围（-10°C 以下未校准） -20 °C 至 +1200 °C
（-4 °F 至 +2192 °F）
精度 ± 2 °C 或 2 %（25 °C 时，取读数较大值）
屏显发射率校正 是（根据数字和表格）
屏显反射背景温度补偿 有
屏显传输校正 有
成像性能
图像捕捉频率 刷新率：9 Hz 或 60 Hz（取决于型号）
探测器类型 320 x 240 像素焦平面阵列，非致冷型微测辐射热计
热敏度 (NETD) 30 °C 目标温度时，≤ 0.05 °C(50 mK)
总像素 76,800
红外光谱带 7.5 μm 至 14 μm（长波）
可视（可见光）照相机 工业性能，500 万像素

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