详细介绍
我们专注于横向干涉测量法，它是**敏感的光纤测量技术。因为测量是横向执行（通过光纤的端口），所以它从本质上是无损检测。虽然光纤的高分子涂层或者缓冲区必须被去除，光纤本身仍然可以继续传输测量中的光信号，同时如果必要的话那些高分子涂层在光纤测量之后可以被恢复。光纤折射率分析仪可以对光纤样品进行单波长、多波长的1D、2D测量，获得任何类型光纤的折射率、应力和几何形状数据。
产品特点
- 多波长
- 无劈开要求
- 亚微米空间分辨率
- 适用于任何形式光纤
- 快速测量
- 可测量接头、锥度、耦合器
| 折射率精度 | ±0.0001 |
| 空间分辨率 | ~500 nm |
| 测量波长范围 | 500 nm-1 μm |
| 光纤直径 | 40 μm-400 μm |
| 光纤材料 | 石英，非石英，塑料 |
| 测量同心度误差 | ±200 nm |
| 测量纤芯非圆度误差 | ±0.4% |
| 可测光纤类型 | 单模, 多模, 微结构 (PCF), PM, 多芯, 稀土, 包层泵浦, 大模面积, 弯曲损失, 高-Δ, 等. |
可选项
- 测量在红外范围内的特定波长(900nm到2000nm)，需要选择IFA-100-IR版。
- 多波长测量500nm～1000nm范围内选择，需要购买IFA-100-MW选项。
- 多波长测量900nm～2000nm范围内选择，需要使用IFA-100-IR版本和购买IFA-100-MW选项。
- 测量直径超过420μm的光纤，需要购买IFA-100-LD选项。
- 基于光纤双折射测量特种光纤的残余轴向热应力的能力，需要购买IFA-100-STRESS选项。
- 基于光纤双折射对特种光纤的残余轴向热应力的2D测量能力，需要购买IFA-100-STRESS和IFA-100-ROT选项。
- 镱掺杂2D空间分布的测量，需要购买IFM-100-SEM和IFA-100-ROT选项。
- 铒、铥、钬掺杂2D空间分布的测量，需要使用IFA-100-IR和购买IFM-100-SEM和IFA-100-
联系方式
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